
평가 보드 라인업
Category | SiC Product | Image | Part No. | Maker | 제품 상세 내용 | User Guide | 보드 구입 | |
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SiC-MOS | Evaluation Board | SCT3XXX series Trench (3G) TO-247 3L / 4L |
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NEW P02SCT3040KR-EVK-001 |
ROHM | 상세 내용 | 유저 가이드 | 온라인 구입 |
제품 사양서 | ||||||||
SiC Module | Drive board | BSM series Planar (2G) (1200V, E / G type) |
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NEW BSMGD2G12D24-EVK001 |
- | 유저 가이드 | 문의 | |
BSM series Trench (3G/4G) (1200V, E / G type) |
NEW BSMGD3G12D24-EVK001 |
- | 유저 가이드 | 문의 | ||||
BSM series (1200V, C type) |
NEW BSMGD3C12D24-EVK001 |
- | 유저 가이드 | 문의 | ||||
BSM series (1200V,1700V E/G type) | ![]() |
2EG-B series | TAMURA | Tamura Manufacturing’s Website | ||||
Snubber Module | BSM series (1200V, C type) |
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MGSM1D72J2-145MH26 | ROHM | - | 문의 | ||
BSM series (1200V, E / G type) |
MGSM1D72J2-145MH16 | - | ||||||
BSM250 (1700V, E type) |
MGSM1D72J3-934MH93 | - | ||||||
AC/DC | Evaluation Board | SCT2H12NZ | ![]() |
BD7682FJ-LB-EVK-402 | ROHM | 상세 내용 | 어플리케이션 노트 |
온라인 구입 |
평가 보드 상세 내용
P02SCT3040KR-EVK-001
- 로옴의 SCT3040KR (1200V 40mΩ TO-247-4L) 평가용
회로 승수의 변경을 통해, 로옴의 다른 SiC MOSFET 제품 평가 가능 - TO-247-4L뿐만 아니라, TO-247-3L의 through hole이 있어, 동일 기판으로 비교 평가 가능
- 단일 전원 (+12V로 동작)
- 최대 150A의 더블 펄스 시험, 최대 500kHz의 스위칭 동작 가능
- 각종 전원 토폴로지에 대응 (Buck, Boost, Half-Bridge)
- 게이트 구동용 절연 전원을 내장하여, 가변 저항으로 조정 가능 (+12V~+23V)
- 게이트 구동용 마이너스 바이어스와 제로 바이어스를 점퍼 단자로 전환 가능
- Upper arm / Lower arm의 동시 ON 방지, 과전류 보호 기능 (DESAT, OCP) 내장

1700V SiC MOSFET 탑재 AC/DC 컨버터 제어 IC 평가 보드
대전력을 취급하는 산업기기용으로 최적인 1700V 고내압 SiC-MOSFET와 SiC 구동용 AC/DC 컨버터 제어 IC를 탑재하고 있습니다.
BD7682FJ-LB-EVK-402
- SiC-MOSFET 구동, AC/DC 평가 보드 (플라이백 컨버터)
- 1700V SiC-MOSFET SCT2H12NZ 탑재
- AC/DC 컨버터 제어 IC BD7682FJ-LB 탑재
- 3상 AC400~690V 입력 24V / 1A 출력

자료
- Basics and Design Guidelines for Gate Drive Circuits
- What is a Thermal Model?
- Precautions During Gate-Source Voltage Measurement
- Improving Switching Loss by Driver Source
- Snubber Circuit Design Methods for SiC MOSFETs
- Gate-Source Voltage Surge Suppression Methods
- Gate-Source Voltage Behavior in a Bridge Configuration
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